概述
Type-C接口(USB Type-C)因其高传输速率、正反插、供电能力强等优势广泛应用于各种电子设备中,但它在使用过程中也面临一定的静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)风险。如果不加以防范,可能导致接口损坏、芯片失效,甚至整个设备失灵。
静电风险来源
人体静电放电(HBM)
用户插拔Type-C接口时,人体携带的静电可能放电到设备上,尤其在干燥环境中更常见。
插拔过程中接触放电
Type-C插头在插入过程中,可能首先接触到信号线或电源引脚,容易引发静电放电。
接地不良或设备未接地
如果设备接地措施不当,静电能量无法迅速释放,容易积聚并造成放电。
设备接口裸露
尤其是移动设备或开放接口长期裸露在外,更容易受到外界静电的影响。
静电对Type-C接口的影响
- 烧毁控制芯片或端口保护芯片
- 导致接口功能失效(如无法识别或供电异常)
- 系统重启或死机
- 数据传输错误或中断
应用框图

推荐元器件
1、ESD1/ESD2/ESD3/ESD4推荐使用SEULC0524PA系列多路低电容ESD二极管,采用4 通道阵列设计,支持多线路保护,采用DFN2510-10L紧凑封装,适配现代电子设备对空间和性能的双重需求。SEULC0524PA以其极低的 0.3 pF 电容和高达 ±25 kV 的 ESD 保护,成为保护高速数据线的理想选择。如需了解详情,请访问https://semiware.com/tvs-array/seulc0524pa/
2、ESD5推荐使用SE16F200U7.0A系列浪涌型ESD二极管,采用DFN1610-2L标准封装,具有漏电流小,反应速度快(nS级),可靠性高等特性。如需了解详情,请访问https://semiware.com/tvs-array/se16f200u7-0a/
认证与测试
- 进行IEC 61000-4-2 静电抗扰度测试(8kV接触放电 / 15kV空气放电)验证抗ESD能力。
- 建议测试包括Type-C接口的所有功能引脚,以覆盖各种插拔及短接情形。
了解更多
如需要了解更多该方案的详细信息,请与我们的工程师团队联系,或者访问具体参考设计页面:https://semiware.com/reference-designs/type-c/;您在设计方案的过程中,也可以提供更多信息(如工作电压、接口种类、是否接地等),我们可以按照您的要求进行方案设计及测试环境搭建。
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